Предисловие редактора русского перевода | 5 |
Предисловие автора к русскому изданию | 7 |
Из предисловия автора | 8 |
|
Глава 1. Анализ электронных схем с помощью вычислительных машин |
|
1.1. Введение | 11 |
1.2. Классификация схем | 11 |
1.3. Анализ n-полюсников | 13 |
1.3.1. Введение | 13 |
1.3.2. Матрицы Z и Y | 15 |
1.3.3. Гибридная матрица | 18 |
1.4. Анализ нелинейных резистивных схем | 20 |
1.4.1. Введение | 20 |
1.4.2. Постановка задачи | 23 |
1.4.3. Численное решение | 26 |
1.5. Матричный анализ линейных схем | 33 |
1.5.1. Введение | 33 |
1.5.2. Метод обратной матрицы | 34 |
1.5.3. Метод редукции Гаусса | 35 |
1.5.4. Решение методом редукции схемы | 39 |
1.5.5. Другие способы повышения точности | 41 |
1.5.6. Цепная или ABCD-матрица | 44 |
1.5.7. Преобразование матриц путём разбиения | 47 |
1.6. Анализ схем без особенностей методом переменных состояния | 51 |
1.6.1. Введение | 51 |
1.6.2. Понятие состояния | 51 |
1.6.3. Решение уравнений состояния с помощью преобразования |
Лапласа | 55 |
1.6.4. Расчёт переходного процесса по уравнениям состояния | 60 |
1.6.5. Вычисление переходной характеристик численным |
интегрированием | 64 |
1.7. Анализ нелинейных схем | 80 |
1.7.1. Введение | 80 |
1.7.2. Составление уравнений для описания схем | 80 |
1.7.3. Расчёт условий установления | 82 |
1.7.4. Решение нелинейных уравнений во временной области | 85 |
1.7.5. Другие методы | 91 |
1.7.6. Линеаризация уравнений, описывающих схему | 92 |
1.7.7. Численное интегрирование нелинейных уравнений | 94 |
1.7.8. Пример | 94 |
Задачи | 97 |
|
Глава 2. Использование топологических методов для получения |
уравнений состояния |
|
2.1. Введение | 108 |
2.2. Элементарная теория графов | 109 |
2.2.1. Введение | 109 |
2.2.2. Соотношения, определяющие напряжение и ток в ветвях | 112 |
2.2.3. Доказательство алгоритма | 117 |
2.3. Формулирование уравнений состояния схемы | 121 |
2.3.1. Свойства дерева | 121 |
2.3.2. Постановка задачи | 123 |
2.3.3. Форма решения | 124 |
2.3.4. Решение уравнений для RLC-схем | 130 |
2.3.5. Общая форма уравнений состояния для RLС-схем с активными |
элементами | 134 |
2.3.6. Модификация матрицы М для RLC-схем с активными элементами | 134 |
2.3.7. Топологический полюсный анализ схем | 138 |
Задачи | 138 |
|
Глава 3. Учёт разброса параметров |
|
3.1. Введение | 142 |
3.2. Анализ разброса параметров методом малых приращений | 143 |
3.2.1. Введение | 143 |
3.2.2. Вычисление частных производных | 144 |
3.3. Рекурсивное вычисление схемных функций | 153 |
3.4. Статистические методы анализа разброса параметров | 154 |
3.4.1. Основные положения статистики | 154 |
3.4.2. Метод моментов | 158 |
3.4.3. Сравнение двух методов | 159 |
3.4.4. Метод Монте-Карло | 160 |
Задачи | 166 |
|
Глава 4. Оптимизация схем |
|
4.1. Введение | 168 |
4.2. Формальные критерии оптимизации | 169 |
4.3. Основные положения теории оптимизации | 171 |
4.3.1. Определение минимума | 171 |
4.3.2. Локальные минимумы | 172 |
4.3.3. Выпуклость | 173 |
4.3.4. Скорость сходимости | 174 |
4.4. Некоторые методы минимизации | 175 |
4.4.1. Метод наискорейшего спуска | 175 |
4.4.2. Вычисление коэффициента ai | 177 |
4.4.3. Прямой поиск ai | 179 |
4.4.4. Метод Флетчера-Поуэлла | 181 |
4.4.5. Минимизация методом наименьших квадратов | 184 |
4.5. Пример программы минимизации | 186 |
4.6. Оптимизация в пространстве элементов | 197 |
4.7. Минимизация при наличии ограничений | 203 |
4.7.1. Постановка задачи | 203 |
4.7.2. Вычислительные алгоритмы минимизации при ограничениях | 206 |
4.8. Оптимизация в s-плоскости | 209 |
4.8.1. Область применения | 209 |
4.8.2. Метод подбора коэффициенюв | 210 |
4.8.3. Главные полюса | 213 |
4.8.4. Модификации метода | 214 |
4.8.5. Алгоритм вычисления матрицы частных производных | 217 |
4.9. Сравнение оптимизации в частотной области с оптимизацией |
методом подбора коэффициентов | 221 |
4.10. Минимизация чувствительности | 222 |
4.11. Метод непрерывного преобразования схем с сохранением |
эквивалентности | 227 |
4.12. Заключение | 229 |
Задачи | 230 |
|
Глава 5. Моделирование активных элементов |
|
5.1. Введение | 234 |
5.2. Классификация моделей | 234 |
5.3. Разработка моделей приборов по описывающим их дифференциальным |
уравнениям в частных производных | 235 |
5.3.1. Введение | 235 |
5.3.2. Уравнение непрерывности | 236 |
5.3.3. Разработка схемной модели | 237 |
5.4. Моделирование полупроводникового диода | 240 |
5.4.1. Физические принципы работы диода | 240 |
5.4.2. Электрическая модель диода | 243 |
5.4.3. Корректировка модели диода | 247 |
5.4.4. Преобразования модели | 247 |
5.4.5. Динамическая модель диода в режиме большого сигнала | 247 |
5.4.6. Выбор значений параметров модели активного элемента | 250 |
5.4.7. Уравнения, описывающие работу диода в режиме малого |
сигнала | 250 |
5.4.8. К методике разработки модели | 251 |
5.5. Модели транзистора | 254 |
5.5.1. Введение | 254 |
5.5.2. Корректировка однокаскадной модели транзистора | 254 |
5.5.3. Динамическая модель для режима большого сигнала | 255 |
5.5.4. Измерение параметров модели | 257 |
5.5.5. Модель для режима малого сигнала | 257 |
5.5.6. Сравнение многокаскадных моделей транзистора | 260 |
5.6. Другие нелинейные модели диода и транзистора | 261 |
Задачи | 261 |
|
Дополнение 1. Присоединённая цепь и её применение для оптимизации |
схемы | 264 |
|
Дополнение 2. | 300 |