Отправить другу/подруге по почте ссылку на эту страницуВариант этой страницы для печатиНапишите нам!Карта сайта!Помощь. Как совершить покупку…
московское время08.06.25 17:04:01
На обложку
Электронные процессы на поверхности полупроводников при…авторы — Волькенштейн Ф. Ф.
Сборник задач по классической механике. — 2-е изд., исправл.…авторы — Коткин Г. Л., Сербо В. Г.
Копулятивные сочетания в современном персидском языкеавторы — Талыбова С. Э.
б у к и н и с т и ч е с к и й   с а й т
Новинки«Лучшие»Доставка и ОплатаМой КнигоПроводО сайте
Книжная Труба   поиск по словам из названия
В ВЕСЕННЕ-ЛЕТНЕ-ОСЕННЕЕ ВРЕМЯ ВОЗМОЖНЫ И НЕМИНУЕМЫ ЗАДЕРЖКИ ПРИ ОБРАБОТКЕ ЗАКАЗОВ
Авторский каталог
Каталог издательств
Каталог серий
Моя Корзина
Только цены
Рыбалка
Наука и Техника
Математика
Физика
Радиоэлектроника. Электротехника
Инженерное дело
Химия
Геология
Экология
Биология
Зоология
Ботаника
Медицина
Промышленность
Металлургия
Горное дело
Сельское хозяйство
Транспорт
Архитектура. Строительство
Военная мысль
История
Персоны
Археология
Археография
Восток
Политика
Геополитика
Экономика
Реклама. Маркетинг
Философия
Религия
Социология
Психология. Педагогика
Законодательство. Право
Филология. Словари
Этнология
ИТ-книги
O'REILLY
Дизайнеру
Дом, семья, быт
Увлечения
Детям!
Здоровье
Искусство. Культурология
Синематограф
Альбомы
Литературоведение
Театр
Музыка
КнигоВедение
Литературные памятники
Современные тексты
Худ. литература
NoN Fiction
Природа
Путешествия
Эзотерика
Пурга
Спорт

/Наука и Техника/Инженерное дело

Основы теории статистических измерений — Цветков Э. И.
Основы теории статистических измерений
Цветков Э. И.
год издания — 1979, кол-во страниц — 288, тираж — 7000, язык — русский, тип обложки — твёрд. 7Б суперобл., масса книги — 380 гр., издательство — Энергия. Лен. отд.
цена: 499.00 рубПоложить эту книгу в корзину
Сохранность книги — хорошая, суперобл. — удовл.

Р е ц е н з е н т ы:
Ш. Ю. Исмаилов, Э. А. Кудряшов, М. Г. Марамзина

Формат 60x90 1/16. Бумага типографская №1. Печать высокая
ключевые слова — измерен, вероятностн, случайн, погрешност

Книга посвящена разработке новой теории измерений вероятностных характеристик случайных процессов. Построена система соотношений, определяющих результаты измерений и методические погрешности. Приведены типовые структуры измерительных устройств.

Книга предназначена для специалистов, занимающихся исследованием свойств случайных процессов, разработкой методов и средств измерений вероятностных характеристик, а также синтезом методов и средств обработки полезных сигналов на фоне помех во всех областях информационной и управляющей техники.

Книги на ту же тему

  1. Измерительно-вычислительные средства автоматизации производственных процессов: Учебное пособие для вузов, Чернявский Е. А., Недосекин Д. Д., Алексеев В. В., 1989
  2. Автоматизация измерений и обработки данных физического эксперимента, Никитин В. А., Ососков Г. А., 1986
  3. Автоматические многофункциональные измерительные преобразователи, Дубовой Н. Д., 1989
  4. Методы обработки экспериментальных данных. — 2-е изд., Уорсинг А., Геффнер Д., 1953
  5. Измерение и анализ случайных процессов, Бендат Д., Пирсол А., 1971
  6. Статистический анализ случайных процессов в приложении к агрофизике и агрометеорологии, Жуковский Е. Е., Киселёва Т. Л., Мандельштам С. М., 1976
  7. Многоцелевой статистический анализ случайных сигналов, Домарацкий А. Н., Иванов Л. Н., Юрлов Ю. И., 1975
  8. Статистический анализ экспериментальных данных, Протасов К. В., 2005
  9. Помехозащищённость систем радиосвязи. Вероятностно-временной подход. — 2-е изд., испр., Борисов В. И., Зинчук В. М., 2008
  10. Курс теории случайных процессов, Вентцель А. Д., 1975
  11. Математическая статистика, Уилкс С., 1967

Напишите нам!© 1913—2013
КнигоПровод.Ru
Рейтинг@Mail.ru работаем на движке KINETIX :)
elapsed time 0.021 secработаем на движке KINETIX :)