Предисловие | 3 |
|
Г л а в а I. Общие вопросы оптической измерительной техники | 5 |
|
1. Источники излучения (М. А. Знаменская) | 5 |
1. Лампы накаливания и тепловые источники излучения | 5 |
2. Газоразрядные и люминесцентные лампы | 13 |
3. Лабораторные источники дневного света | 18 |
2. Приёмники, применяемые в оптических измерениях (М. А. Знаменская) | 20 |
3. Погрешности измерений и обработка результатов (Д. Т. Пуряев) | 26 |
|
Г л а в а II. Контроль оптических материалов (Д. Т. Пуряев) | 30 |
|
1. Основные требования и характеристики оптического стекла | 30 |
2. Измерение показателей преломления и дисперсии | 32 |
1. Видимая область спектра | 32 |
Гониометрические методы | 33 |
Рефрактометрические методы | 38 |
Интерференционный метод И. В. Обреимова | 42 |
2. Ультрафиолетовая область спектра | 46 |
3. Инфракрасная область спектра | 48 |
3. Оптическая однородность | 51 |
4. Двойное лучепреломление | 53 |
5. Бессвильность | 56 |
6. Пузырность | 57 |
7. Коэффициент светопоглощения в видимой, ультрафиолетовой и |
инфракрасной областях спектра (М. А. Знаменская) | 58 |
8. Характеристики цветного стекла (М. А. Знаменская) | 64 |
9. Измерение показателей преломления кристаллов | 69 |
1. Общие сведения о кристаллах | 69 |
2. Гониометрический метод | 74 |
3. Рефрактометрический метод | 75 |
4. Метод Обреимова | 76 |
|
Г л а в а III. Контроль качества плоских и сферических |
поверхностей (Д. Т. Пуряев) | 78 |
|
1. Метод коллиматора и зрительной трубы для контроля плоских |
поверхностей | 78 |
2. Контроль по виду дифракционного изображения точки | 80 |
3. Интерференционные методы | 83 |
1. Метод пробных стёкол | 83 |
2. Бесконтактный контроль плоских поверхностей на |
интерферометрах | 85 |
3. Бесконтактный контроль сферических поверхностей |
на интерферометре Ю. В. Коломийцова и И. И. Духопела | 86 |
4. Теневые методы | 88 |
|
Г л а в а IV. Контроль качества асферических |
поверхностей (Д. Т. Пуряев) | 91 |
|
1. Классификация асферических поверхностей | 91 |
2. Контактно механические методы контроля формы асферических |
поверхностей | 93 |
3. Метод асферических пробных стёкол | 94 |
4. Метод пробных сферических стёкол для контроля асферических |
поверхностей, мало отличающихся от сферы | 95 |
5. Метод анаберрационных точек для контроля эллиптических, |
параболических и гиперболических поверхностей | 99 |
1. Сущность метода | 99 |
2. Интерферометр ИКП-1 | 10З |
3. Методика юстировки автоколлимационных систем | 110 |
6. Компенсационный метод | 116 |
1. Сущность метода и виды компенсации | 116 |
2. Интерферометр ИКАП-1 | 119 |
7. Измерение угла раствора и контроль качества полированных |
конических поверхностей | 130 |
|
Г л а в а V. Контроль оптических деталей | 136 |
|
1. Измерение толщин линз и плоскопараллельных пластинок |
(Д. Т. Пуряев) | 136 |
2. Измерение радиусов кривизны сферических поверхностей |
(Д. Т. Пуряев) | 139 |
1. Метод сферометра | 140 |
2. Метод колец Ньютона | 141 |
3. Автоколлимационный метод | 144 |
3. Контроль децентрировки линз (Л. М. Кривовяз) | 147 |
1. Контроль с помощью коллиматора и микроскопа | 148 |
2. Контроль с помощью зрительной трубы | 149 |
3. Контроль с помощью коллиматора и длиннофокусного микроскопа |
с подвижной линзой | 150 |
4. Контроль с помощью автоколлимационного микроскопа | 151 |
5. Контрочь децентрировки на автоколлиматорном микроскопе |
А. А. Забелина | 153 |
6. Центрировка линз при склейке | 153 |
4. Измерение преломляющих углов клиньев и углов отклонения |
(Д. Т. Пуряев) | 155 |
1. Гониометрические методы | 156 |
2. Метод коллиматора и зритетьной трубы | 157 |
3. Интерференционный метод | 158 |
5. Измерение преломляющих углов и углов отклонения призм |
(Д. Т. Пуряев) | 159 |
6. Контроль качества просветления сферических и плоских поверхностей |
оптических деталей (М. А. Знаменская) | 164 |
1. Общие сведения о просветлении оптики | 164 |
2. Измерение интегральных коэффициентов отражения просветлённых |
оптических деталей | 168 |
3. Измерение спектрального отражения просветлённых оптических |
деталей | 177 |
7. Контроль светоделительных и отражающих покрытий |
(М. А. Знаменская) | 181 |
|
Г л а в а VI. Контроль оптических характеристик приборов | 189 |
|
1. Измерение фокусных, вершинных фокусных и рабочих расстояний |
оптических систем (Л. М. Кривовяз) | 189 |
1. Измерение вершинных фокусных расстояний | 190 |
2. Измерение фокусных расстояний | 193 |
3. Измерение рабочих расстояний объективов | 217 |
2. Измерение оптических характеристик телескопических систем | 222 |
1. Измерение увеличения телескопических систем (Л. М. Кривовяз) | 223 |
2. Измерение поля зрения телескопических систем (Л. М. Кривовяз) | 224 |
3. Измерение диаметра зрачка выхода телескопической системы |
и его удаления (Л. М. Кривовяз) | 226 |
4. Измерение пропускания (М. А. Знаменская) | 228 |
5. Измерение коэффициента светорассеяния (М. А. Знаменская) | 230 |
3. Измерение оптических характеристик фотографических систем | 233 |
1. Определение размеров зрачка входа и проверка шкалы |
относительных отверстий (Л. М. Кривовяз) | 233 |
2. Определение эффективного относительного отверстия |
(М. А. Знаменская) | 236 |
3. Измерение поля зрения (Л. М. Кривовяз) | 239 |
4. Измерение коэффициента виньетирования (Л. М. Кривовяз) | 239 |
5. Измерение распределения освещённости по полю изображения |
(М. А. Знаменская) | 240 |
6. Измерение коэффициента пропускания (М. А. Знаменская) | 242 |
7. Определение цветопередачи объективов (М. А. Знаменская) | 245 |
Расчётный метод определения цветопередачи просветлённого |
объектива | 247 |
Метод контроля качества цветопередачи объективов на зонном |
фотометре | 252 |
Колориметрический метод оценки качества цветопередачи | 256 |
8. Измерение коэффициента светорассеяния (М. А. Знаменская) | 260 |
4. Измерение оптических характеристик микроскопических систем |
(Л. М. Кривовяз) | 264 |
1. Измерение линейного увеличения микрообъектива | 264 |
2. Измерение увеличения микроскопа | 265 |
3. Измерение поля зрения микроскопа | 267 |
|
Г л а в а VII. Контроль качества изображения и исследование |
коррекции оптических систем (Л. М. Кривовяз) | 269 |
|
1. Оценка качества изображения отдельных элементов оптических систем | 269 |
1. Проверка плоскопараллельных пластин, плоских зеркал и призм | 269 |
2. Проверка линзовых компонентов, корригированных на сферическую |
аберрацию | 279 |
2. Контроль качества изображения фотографических систем | 281 |
1. Общие понятия | 281 |
2. Контроль качества изображения по виду дифракционного |
изображения точки | 284 |
3. Контроль качества изображения по остаточным аберрациям | 285 |
4. Фотографические методы исследования качества изображения |
объективов | 306 |
5. Частотно-контрастный (фотоэлектрический) метод исследования |
качества изображения | 317 |
3. Контроль качества изображения телескопических систем | 321 |
4. Контроль качества изображения микроскопических систем | 323 |
|
С п и с о к л и т е р а т у р ы | 326 |