|
Логическое проектирование СБИС Научное издание |
Киносита К., Асада К., Карацу О. |
год издания — 1988, кол-во страниц — 309, ISBN — 5-03-000393-3, 4-00-010185-4, тираж — 20000, язык — русский, тип обложки — твёрд. 7Б тканев., масса книги — 410 гр., издательство — Мир |
|
цена: 300.00 руб | | | | |
|
Сохранность книги — хорошая
Iwanami Shoten Publishers, Tokyo, 1985
Пер с япон.
Формат 60x90 1/16. Бумага типографская №1. Печать высокая |
ключевые слова — микроэлектроник, сбис, плм, систолическ, hsl-fx, smf, булев, вентил, алгоритмическ, легкотестируем, плм |
Книга является переводом четвёртого тома 11-томной серии по микроэлектронике, написанной крупными японскими специалистами. Посвящена новейшим методам автоматизированного проектирования БИС и СБИС, позволяющим получать наилучшие технические характеристики. Основное внимание уделяется математической теории логического проектирования, проблемам упрощения логических функций и языкам описания, которые используются: для автоматизации процессов проектирования и моделирования. Рассматриваются способы создание тестов для обнаружения неисправностей и методы создания легкотестируемых схем. Приводятся примеры проектирования БИС и СБИС.
Для научных работников и инженеров, проектирующих интегральные схемы, а также студентов соответствующих специальностей вузов.
К настоящему времени уже появилось немало работ пр проектированию сверхбольших интегральных схем (СБИС), Однако книги с такой чёткой ориентацией на автоматизированное проектирование, как предлагаемая, пока не было. В ней излагаются принципы логического проектирования СБИС — от схем комбинационного типа, в том числе построенных на программируемых логических матрицах (ПЛМ) и постоянных запоминающих устройствах (ПЗУ), до устройств параллельной обработки типа систолических матриц.
Особый интерес для специалистов представляет глава, посвящённая языкам описания. В ней достаточно полно представлены язык функционального описания HSL-FX для иерархического проектирования и графический язык SMF, предназначенный для разработки масок СБИС.
Излагаются также основные методы логического моделирования и моделирования неисправностей как инструмента верификации и синтеза тестов цифровых схем. Кроме того, рассматриваются вопросы, связанные с проектированием легкотестируемых схем. Эта сравнительно новая область проектирования возникла в связи с возрастающей сложностью синтеза тестов для схем высокой степени интеграции. Следует отметить, однако, что она пока находится на самом раннем этапе своего развития, поэтому и охватываемые ею методы проектирования, как указывают авторы, могут служить только основой для дальнейшего развития.
Книга представляет интерес для инженеров и специалистов, в сферу деятельности которых входят задачи логического проектирования и контроля работы аппаратуры на СБИС.
Перевод выполнен Д. А. Ковтуновым (гл. 1—3) и Л. В. Поспеловым (предисловие и гл. 4—6).
От редактора перевода Л. В. Поспелов
|
ОГЛАВЛЕНИЕОт редактора перевода | 5 | Предисловие | 6 | | Глава 1. Булева алгебра | 8 | 1.1. Представление чисел | 8 | 1.2. Булева алгебра и теория переключений | 17 | 1.3. Логические функции и стандартная форма | 22 | 1.4. Минимизация логических функций | 26 | | Глава 2. Основы логического проектирования | 45 | 2.1. Проектирование комбинационных схем | 45 | 2.2. Проектирование последовательностных схем | 70 | 2.3. Системное проектирование СБИС | 89 | | Глава 3. Языки описания | 110 | 3.1. Роль языков описания и история их развития | 110 | 3.2. Языки структурного описания | 120 | 3.3. Язык функционального описания | 149 | 3.4. Язык графического описания | 176 | 3.5. Языки описания и системы языковой обработки | 192 | | Глава 4. Логическое моделирование | 199 | 4.1. Основы логического моделирования | 199 | 4.2. Моделирование на уровне вентилей | 206 | 4.3. Универсальное логическое моделирование | 219 | | Глава 5. Способы генерации тестовых последовательностей | 227 | 5.1. Модели неисправностей и задача обнаружения | 227 | 5.2. Алгоритмические способы синтеза тестов | 234 | 5.3. Моделирование неисправностей | 248 | 5.4. Тестовые последовательности для запоминающих устройств | 260 | | Глава 6. Проектирование легкотестируемых схем | 269 | 6.1. Способы упрощения тестирования | 269 | 6.2. Легкотестируемые ПЛМ | 275 | 6.3. Проектирование легкотестируемых последовательностных | схем | 282 | 6.4. Методы встроенного тестирования | 296 | | Предметный указатель | 306 |
|
Книги на ту же тему- Методы логического и логико-временного анализа цифровых КМОП СБИС, Стемпковский А. Л., Гаврилов С. В., Глебов А. Л., 2007
- Микроэлектронные схемы цифровых устройств. — 4-е изд., перераб. и доп., Букреев И. Н., Горячев В. И., Мансуров Б. М., 2009
- Аппаратные средства микроЭВМ, Морисита И., 1988
- Построение сетей ЭВМ, Като М., Иимура Д., Токоро М., Тома Ё., 1988
- Расчёт элементов цифровых устройств: Учебное пособие. — 2-е изд., перераб. и доп., Преснухин Л. Н., Воробьёв Н. В., Шишкевич А. А., 1991
- Моделирование интегральных микротехнологий, приборов и схем, Бубенников А. Н., 1989
- Схемотехническое проектирование и моделирование радиоэлектронных устройств (без CD), Антипенский Р. В., Фадин А. Г., 2007
- Арсенид галлия в микроэлектронике, Айнспрук Н., Уиссмен У., ред., 1988
- Микропроцессоры: Курс и упражнения, Токхайм Р., 1988
- Проектирование микропроцессорных устройств с разрядно-модульной организацией: В 2-х книгах (комплект из 2 книг), Мик Д., Брик Д., 1984
- Обслуживание микропроцессорных систем, Фергусон Д., Макари Л., Уилльямз П., 1989
- Технические средства микропроцессорных систем: Практический курс, Коффрон Д., 1983
|
|
|