год издания — 1976, кол-во страниц — 296, тираж — 4700, язык — русский, тип обложки — твёрд. картон, масса книги — 420 гр., издательство — Машиностроение. Лен. отд.

КНИГА СНЯТА С ПРОДАЖИ

Сохранность книги — хорошая

Р е ц е н з е н т: Ю. П. Ефремов

Формат 60x90 1/16. Бумага типографская №2

В книге рассмотрены вопросы инженерной теории интерферометров, связанные главным образом с исследованием причин, понижающих контрастность интерференционных полос и искажающих их форму. Обоснованы требования к оптическим и механическим узлам интерферометров разных типов. Описаны интерферометры для измерения длин, для контроля формы и микрогеометрии поверхностей, а также для исследования оптических систем, измерения показателей преломления веществ и аэродинамических исследований. Рассмотрены возможные способы повышения чувствительности интерферометров.

Книга предназначена для инженерно-технических работников, занятых разработкой и эксплуатацией интерферометров; она может быть полезна также преподавателям и студентам приборостроительных вузов.

Табл. 7. Ил. 140. Список лит. 161 назв.

Многие точные измерения, роль которых в современной науке к технике, как известно, быстро возрастает, осуществляются интерференционными методами. Для решения ряда задач измерения эти методы единственно возможны. В последние годы область применения интерференционных приборов значительно расширилась благодаря созданию новых источников света (лазеров) и развитию электроники. В связи с разработкой большого числа новых интерферометров важное значение приобретает рассмотрение инженерных вопросов их теории — таких, как исследование причин, снижающих контрастность и искажающих форму интерференционных полос, обоснование требований к оптическим и механическим узлам интерферометров разных типов, к точности установки этих узлов в заданные положения, выявление источников погрешностей измерения и т. д.

Между тем, в изданных ранее книгах М. Ф. Романовой («Интерференция света и её применения», 1937 г.) и А. Н. Захарьевского «Интерферометры», 1952 г.) на многие из этих вопросов нет достаточно полных ответов. Упомянутые книги не содержат, естественно, и сведений о большом числе интерферометров, разработанных за последние десятилетия (в частности, о лазерных и голографических интерферометрах); ничего не говорится в них также о возможностях сочетания интерферометров с фотоэлектрическими устройствами. Поэтому издание новой книги по интерферометрии представляется полезным.

Цель предлагаемой книги заключается в ознакомлении инженерных и научных работников, занятых разработкой и эксплуатацией интерференционных приборов, а также работников измерительных лабораторий заводов, с основами инженерной теории интерферометров и с различными возможностями их применения (измерение длин, контроль формы и микрогеометрии поверхностей, исследование оптических систем и аэродинамических потоков, измерение показателей преломления веществ). Не рассмотрены интерференционные приборы для спектральных исследований, так как описанию этих приборов посвящён ряд монографий, вышедщих в свет в недавнее время; не говорится в книге также о поляризационных интерферометрах для измерения натяжений.

Основу книги составляет обобщение сведений об интерферометрах, содержащихся в журнальной литературе. Наряду с этим дано и новое, впервые проведённое рассмотрение некоторых разделов теории интерферометров. Освещены также вопросы, обычно оставляемые за рамками литературных публикаций, но представляющие практический интерес: обоснование выбора параметров оптических деталей, требования к юстировке и т. д. Из-за ограниченности объёма книги не описаны конструкции интерферометров и лишь кратко рассмотрены методики работы с ними…

ПРЕДИСЛОВИЕ

Предисловие	3

Глава I. Общие сведения об интерференции света	5
§ 1. Основные понятия и величины	—
§ 2. Когерентность	8
§ 3. Интерференция от двух когерентных источников света	9
Ширина и форма интерференционных полос (10). Разделение световой волны по фронту (12). Разделение световой волны по амплитуде (13).

Глава II. Интерференция в пластинах	15
§ 4. Интерференция в плоскопараллельной пластине	—
Вычисление разности хода лучей в пластине (15). Получение колец равного наклона (16). Зависимость контрастности полос от клиновидности пластины (19).
§ 5. Интерференция в клиновидной пластине	20
Ход лучей в клиновидной пластине (20). Контрастность полос равной толщины при конечных размерах источника света (21). Плоскость локализации (22). Наблюдение картины вне плоскости локализации (26).
§ 6. Интерференция в пластине, ограниченной сферическими поверхностями	28
Получение колец Ньютона (28). Измерение радиусов кривизны поверхностей (29).
§ 7. Многолучевая интерференция в пластинах	30
Интенсивность проходящего света (31). Интенсивность отражённого света (31).
§ 8. Интерференция в двух пластинах	33
Получение полос равного наклона в белом свете (34). Измерение разности толщин пластин (36).

Глава III. Особенности интерференции в белом свете. Компенсаторы	37
§ 9. Общие сведения	—
§ 10. Неравенство толщин стекла на пути интерферирующих лучей	39
Компенсация стекла воздухом (39). Получение ахроматической полосы (41). Требования к плоскопараллельности оптических деталей (42).
§ 11. Компенсация неравенства толщин стекла введением стекла другого сорта	43
Получение ахроматической полосы нулевого порядка (44). Получение апохроматической полосы (45).
§ 12. Измерительные и котировочные стеклянные компенсаторы	46
Компенсаторы с поворотными пластинами (46). Двухклиновой компенсатор (47). Ахроматический компенсатор (49). Апохроматический компенсатор (51).

Глава IV. Оптические схемы и особенности основных типов интерферометров	52
§ 13. Интерферометры, оптические схемы которых могут быть сведены к одной воздушной пластине	—
Интерферометр Физо (52). Интерферометр Майкельсона (52). Эталон Фабри и Перо (58).
§ 14. Интерферометры с двумя пластинами	61
Интерферометр Жамена (61). Интерферометр Цендера-Маха (65).
§ 15. Интерферометры френелевского типа	68
Интерферометр Релея (68). Звёздный интерферометр Майкельсона (72). Звёздный интерферометр Линника (75).
§ 16. Голографические интерферометры	75

Глава V. Причины понижения контрастности интерференционной картины	81
§ 17. Уточнение определения контрастности	—
Контрастность по полю и в данной точке поля (81). Измеренное и истинное значения контрастности (82).
§ 18. Немонохроматичность источника света	84
Две узкие спектральные линии (84). Одна широкая спектральная линия (84).
§ 19. Неравенство интенсивностей интерферирующих пучков лучей и наличие рассеянного света	87
§ 20. Различие состояний поляризации интерферирующих пучков лучей	89
Интерференция естественного луча с лучом линейно-поляризованным (89). Интерференция двух линейно-поляризованных лучей (90).
§ 21. Зависимость контрастности от размеров источника света	93
Аналогия между клиновидной пластиной и зеркалами Френеля (94). Сдвиг полос в случае толстой клиновидной пластины (95).
§ 22. Непараллельность интерферирующих пучков лучей	98
§ 23. Деформации волновых поверхностей	102
Волна W₂ сферической формы (103). Волна W₂ цилиндрической формы (103). Волна W₂ с местными отступлениями от плоскости (105).
§ 24. Неправильная установка диафрагм	107

Глава VI. Требования к оптическим и механическим узлам интерферометров	114
§ 25. Дифференциация требований к узлам интерферометров разных типов	114
Принцип устройства интерферометра (114). Назначение интерферометра (114). Расстояние от оптического узла интерферометра до поля интерференции (116). Основные и вспомогательные оптические детали (117).
§ 26. Требования к качеству изготовления основных оптических деталей	117
Поверхности зеркал и пластин (117). Толщина и клиновидность оптических деталей (123). Стекло оптических деталей (125).
§ 27. Требования к точности установки основных оптических деталей	126
Смещение деталей вдоль оптической оси (126) Смещение деталей в направлениях, перпендикулярных к оптической оси (127). Поворот зеркал интерферометра (129).
§ 28. Требования к коллиматору и к приёмной части интерферометра	130
Роль расфокусировки коллиматора (130). Роль дисторсии приёмной части интерферометра (132).
§ 29. Требования к механическим узлам	134
Жёсткость конструкции (135). Изменения температуры (135). Регулирующие устройства (137).
§ 30. Юстировка интерферметров и работа с ними	140
Этапы юстировки (140). Способы измерения смещения и искривления полос (143).

Глава VII. Интерферометры для измерения длин	146
§ 31. Общие сведения	—
§ 32. Уникальные интерферометры для измерения больших штриховых и концевых мер длины	148
Эталонная интерференционная установка ВНИИМ (148). Универсальный интерферометр ВНИИМ (150).
§ 33. Интерферометры для абсолютных измерений длины концевых мер	153
Интерферометр Кестерса (153). Интерферометр NPL (157). Интерферометр фирмы «Хильгер-Ваттс» (158).
§ 34. Интерферометры для относительных измерений длины концевых мер	160
Технический интерференционный метод (160). Контактные интерферометры (162). Двойной контактный интерферометр (163). Интерферометр Карташева (163). Интерферометр ИКМ-10 (164).
§ 35. Интерферометры для измерения наружных размеров деталей	167
Многолучевой интерференционный микроскоп МИИ-11 (167). Интерференционный способ измерения диаметров шариков и цилиндров с помощью стеклянных пластин (169). Интерферометр ИЗК-57 для измерения диаметров щариков и цилиндров (170).
§ 36. Интерферометры для измерения внутренних размеров деталей 173
Интерференционный метод измерения диаметров отверстий в прозрачных кольцах с помощью аттестованных пробок (174). Интерференционный нутромер для бесконтактных относительных измерений диаметров отверстий от 8 до 30 мм (175). Интерференционный нутромер ИГ-88 для относительных измерений диаметров отверстий от 5 до 12 мм (178). Абсолютные методы измерений (182).
§ 37. Интерференционные индикаторы для измерения малых перемещений	184
Бесконтактный интерференционный индикатор удвоенной чувствительности (185). Двойной интерферометр (188).
§ 38. Лазерные интерферометры для измерения больших перемещений	189
Принципиальные схемы (189). Интерферометр фирмы «Браун Бовери» (191). Интерферометр ИПЛ (192). Интерферометр фирмы «Катлер-Хаммер» (193) Интерферометр фирмы «Хьюлет-Паккард» (193).

Глава VIII. Интерферометры для контроля формы и микрогеометрии поверхностей	195
§ 39. Интерферометры для контроля плоскостей	—
Метод пробного стекла (195). Применение интерферометров типа Физо (197) Интерферометр ИКП-100 удвоенной чувствительности (198). Голографические интерферометры (199). Фотоэлектрические способы (200). Интерферометры для контроля прямолинейности профиля больших поверхностей (201).
§ 40. Интерферометры для контроля сферических поверхностей	204
Сферические пробные стёкла (204). Интерферометры для бесконтактного контроля поверхностей среднего диаметра (205). Неравноплечий лазерный интерферометр для контроля больших вогнутых поверхностей (210). Интерферометры для контроля сферических поверхностей малого диаметра (212).
§ 41. Интерференционные методы и приборы для контроля поверхностей сложной формы	215
Применение пробных стёкол и интерферометров для контроля сферических поверхностей (215). Методы контроля поверхностей произвольной формы (216). Контроль поверхностей второго порядка (218). Контроль цилиндрических поверхностей (220). Контроль торических поверхностей (223).
§ 42. Микроинтерферометры	225
Микроинтерферометр Линника (225). Контрастность интерференционной картины (228). Условия получения прямых полос (229). Роль апертуры микрообъективов (231). Однообъективный микроинтерферометр Захарьевского (233). Другие методы контроля шероховатости (234).
§ 43. Микропрофилометры	235
Микропрофилометр с цилиндрической линзой (236). Расчёт фокусного расстояния и положения цилиндрической линзы (237). Допустимая ширина щели (238). Влияние неточностей изготовления и установки оптических деталей на контрастность и форму полос (239). Микропрофилометр для контроля шероховатости внутренних поверхностей деталей (240). Микропрофилометр со спектральной насадкой (243). Микропрофилометр пониженной чувствительности (244).

Глава IX. Интерферометры прочих назначений	245
§ 44. Интерферометры для исследования оптических систем	—
Интерферометр Тваймана (245). Метод Линника (247). Метод Цернике (248).
§ 45. Интерферометры для измерения показателя преломления вещества	249
Интерферометры по схеме Релея (249). Интерферометры по схеме Жамена (251). Измерение показателей преломления твёрдых тел (253).
§ 46. Интерферометры для исследования неоднородностей в прозрачных объектах	253
Интерферометр Майкельсона-Тваймана (254). Интерферометр Цендера-Маха (254) Интерферометры сдвига (255). Голографический интерферометр (257) Интерферометр последовательного типа (259).
§ 47. Интерференционные микроскопы для исследования прозрачных микрообъектов	261
Интерференционный биологический микроскоп МБИН-4 (261). Двухфокусный интерференционный микроскоп (262). Интерференционный микроскоп с обратно-круговым ходом (264).

Глава X. Способы повышения чувствительности интерференционных методов измерения	266
§ 48. Трёх- и четырёхлучевые интерферометры	—
Схема трёхлучевого интерферометра типа Релея (266). Трёхлучевой интерферометр Хунцингера (268). Четырёхлучевые интерферометры Харихарана и Сена (270).
§ 49. Визуальные двухлучевые интерферометры повышенной чувствительности	273
Двухлучевой интерферометр с двойным прохождением лучей (273). Схема Рентча (275). Зеркальные устройства с многократным отражением (275).
§ 50. Фотоэлектрические методы измерения изменений разности хода	277
Модуляционный метод измерения малых разностей хода (277). Методы наведения на ахроматическую полосу (280).

Список литературы	285

Книги на ту же тему

Оптические телескопы будущего, Пачини Ф., Рихтер В., Вильсон Р., ред., 1981
Инфракрасные методы в космических исследованиях, Манно В., Ринг Д., ред., 1977
Методы контроля оптических асферических поверхностей, Пуряев Д. Т., 1976
Структура оптического изображения: Дифракционная теория и влияние когерентности света, Марешаль А., Франсон М., 1964
Управляемые оптические системы, Воронцов М. А., Корябин А. В., Шмальгаузен В. И., 1988
Оптические приборы для измерения линейных и угловых величин в машиностроении (Справочная книга), Коломийцов Ю. В., Духопел И. И., Инюшин А. И., Артемьев И. В., 1964
Практика оптической измерительной лаборатории, Кривовяз Л. М., Пуряев Д. Т., Знаменская М. А., 1974
Методы и средства лазерной прецизионной дальнометрии, Андрусенко А. М., Данильченко В. П., Прокопов А. В., Пономарев В. И., Лукин И. В., 1987
Механические устройства малых оптических систем, Шарловский Ю. В., 1979
Тонкие плёнки, их изготовление и измерение, Метфессель С., 1963
Диффузия и вязкость полимеров. Методы измерения, Малкин А. Я., Чалых А. Е., 1979
Экспериментальная механика: В 2-х книгах (комплект из 2 книг), Кобаяси А., ред., 1990

elapsed time 0.020 sec

/Наука и Техника/Физика

ОГЛАВЛЕНИЕ

Книги на ту же тему