t.me/knigoprovod Отправить другу/подруге по почте ссылку на эту страницуВариант этой страницы для печатиНапишите нам!Карта сайта!Помощь. Как совершить покупку…
московское время06.07.20 06:26:26
На обложку
Нестандартные методы в стохастическом анализе и математической…авторы — Альбеверио С., Фенстад Й., Хеэг-Крон Р., Линдстрём Т.
Психология в медицинеавторы — Конечный Р., Боухал М.
Логическое проектирование СБИСавторы — Киносита К., Асада К., Карацу О.
б у к и н и с т и ч е с к и й   с а й т
Новинки«Лучшие»Доставка и ОплатаМой КнигоПроводО сайте
Книжная Труба   поиск по словам из названия
В ЛЕТНЕЕ ВРЕМЯ ВОЗМОЖНЫ И НЕМИНУЕМЫ ЗАДЕРЖКИ ПРИ ОБРАБОТКЕ ЗАКАЗОВ
Авторский каталог
Каталог издательств
Каталог серий
Моя Корзина
Только цены
Рыбалка
Наука и Техника
Математика
Физика
Радиоэлектроника. Электротехника
Инженерное дело
Химия
Геология
Экология
Биология
Зоология
Ботаника
Медицина
Промышленность
Металлургия
Горное дело
Сельское хозяйство
Транспорт
Архитектура. Строительство
Военная мысль
История
Персоны
Археология
Археография
Восток
Политика
Геополитика
Экономика
Реклама. Маркетинг
Философия
Религия
Социология
Психология. Педагогика
Законодательство. Право
Филология. Словари
Этнология
ИТ-книги
O'REILLY
Дизайнеру
Дом, семья, быт
Детям!
Здоровье
Искусство. Культурология
Синематограф
Альбомы
Литературоведение
Театр
Музыка
КнигоВедение
Литературные памятники
Современные тексты
Худ. литература
NoN Fiction
Природа
Путешествия
Эзотерика
Пурга
Спорт

/Наука и Техника/Физика

Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоёв — Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. М.
Рентгенодифракционная диагностика субмикронных слоёв
Научное издание
Афанасьев А. М., Александров П. А., Имамов Р. М.
год издания — 1989, кол-во страниц — 152, ISBN — 5-02-014020-1, тираж — 1850, язык — русский, тип обложки — мягк., масса книги — 160 гр., издательство — Физматлит
цена: 299.00 рубПоложить эту книгу в корзину
Сохранность книги — хорошая

Формат 60x90 1/16. Бумага книжно-журнальная. Печать офсетная
ключевые слова — рентген, неразрушающ, слоёв, материаловед, субмикрон

Излагаются основы теории дифракции рентгеновских лучей в кристаллах высокой степени совершенства и подробно анализируются особенности дифракционного рассеяния в нестандартных схемах дифракции, позволяющие создать новые неразрушающие методы диагностики слоёв и границ раздела, ещё не нашедшие отражения в научных монографиях.

Возможности методов иллюстрируются конкретными примерами исследования технологических процессов микроэлектроники.

Для научных работников и инженеров, специализирующихся в области физики твёрдого тела и полупроводникового материаловедения, а также аспирантов и студентов соответствующих специальностей.

Табл. 3. Ил. 87. Библиогр. 226 назв.

Книги на ту же тему

  1. Физические методы неразрушающего контроля сварных соединений: учебное пособие, Алешин Н. П., 2006
  2. Неразрушающий контроль параметров тонких проводящих плёнок электромагнитными методами, Гаврилин В. В., 1991
  3. Беседы о рентгеновских лучах, Власов П. В., 1977
  4. Дифракционная оптика периодических сред сложной структуры, Беляков В. А., 1988
  5. Асимптотическая теория дифракции электромагнитных волн на конечных структурах, Нефёдов Е. И., Фиалковский А. Т., 1972
  6. Некоторые задачи дифракции электромагнитных волн, Потехин А. И., 1948

Напишите нам!© 1913—2013
КнигоПровод.Ru
Рейтинг@Mail.ru btd.kinetix.ru работаем на движке KINETIX :)
elapsed time 0.033 secработаем на движке KINETIX :)